标题：晶体管特性图示仪原理与使用

作者：梁华

摘要：晶体管特性图示仪是一种用示波管显示半导体器件的各种特性曲线，并可测量其静态参数的测试仪器。图示仪不仅可以测试晶体管，同时可以测试其他半导体管和各种集成电路，而且还可以进行电路特性的测试和研究。

关键词：晶体管,半导体

文献注录：梁华. 晶体管特性图示仪原理与使用 [M]. 人民邮电出版社. 1980, 01.

报/刊名：《人民邮电出版社》，发表于1980 / 第 01 期。

文献类型： [M]

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